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Model S530 파라메트릭 테스트 시스템

Model S530Cart

반도체 특성 분석 시스템
키슬리의 파라메트릭 테스트 시스템은 반도체 제조 FAB와 웨이퍼 수탁 가공 업체들의 테스트 원가 절감에 바탕을 두고 있습니다. 단순히 구매 당시의 비용만을 절감시켜 드리는 것이 아니라 장기간의 고품질 성능 보장을 통해 차세대 디바이스들을 위해 지속적으로 재 사용할 수 있어, 새로운 시스템의 투자 필요를 감소시켜 미래의 투자에 대한 비용을 절감시켜 드립니다.
Model S530의 주요기능
  • Readily adaptable to new devices and test requirements
  • Fast, flexible, interactive test plan development
  • Compatible with popular fully automatic probe stations
  • Options for 1kV, C-V, pulse generation, frequency measurements, and low-voltage measurements
  • Compatible with Keithley's Model 9139A Probe Card Adapter
  • Supports reuse of existing five-inch probe card libraries
  • Proven instrumentation technology ensures high measurement accuracy and repeatability in both the lab and the fab
관련 자료
데이터 시트 S530 Parametric Test
Series S530 Parametric Test Systems
어플리케이션 노트 Performing van der Pauw Sheet Resistance Measurements Using the Keithley S530 Parametric Tester
Programming and Erasing Flash Memory Devices Using the Keithley S530 Pulse Generator Option
Making Ring Oscillator Measurements with S530 Parametric Test System's Frequency Measurement Option
  • 가족친화우수기업
  • 청년친화 강소시업
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