프로브 테스트 솔루션
다양한 옵션으로 다양한 측정 환경에 대응할 수 있습니다.(타사 프로브에 맞게 설계 변경 제작도 가능)
정확한 롱 스트록
모델: M60
- 고정: 마그네틱 또는 스크류 타입
베이스 (온/오프 레버) - 스트록: X,Y,Z ±6.5 mm
Theta: 360 deg - 선형성(Linearity): 1 um
- 트래블(Travel) 거리: 0.5 mm/REV
정확하고 크게 작동 가능
모델: M40
- 고정: 마그네틱 또는 진공 베이스 (온/오프 레버)
- 스트록: X,Y,Z ±6.5 mm
- 선형성(Linearity): 1 um
- 트래블(Travel) 거리: 0.5 mm/REV
- 마이크로미터: 10 um
정확하고 컴팩트한 디자인
모델: M30
- 고정: 마그네틱 또는 진공 베이스 (온/오프 레버)
- 스트록: X,Y,Z ±3.2 mm
- 선형성(Linearity): 1 um
- 트래블(Travel) 거리: 0.5 mm/REV
- 마이크로미터: 10 um
저비용 고성능
모델: M20
- 고정: 마그네틱 고무 베이스
- 스트록: X,Y,Z ±5 mm
- 선형성(Linearity): 30 um
- 트래블(Travel) 거리: 0.5 mm/REV
- 마이크로미터 제외
동축 프로브
- 커넥터: SMA
- 팁 재료: W(ReW, BeCu 옵션)
- 팁 구경: 5 to 40 um
캘빈 동축 프로브
- 커넥터: SSMC
- 팁 구경: 1 to 40 um
3축(Triaxial) 프로브 암
- 커넥터: TXA (P)
- 와이어 길이: ~3m
- 팁 구경: 1, 2, 5, 10, 30 um (텅스텐 직선 바늘)
- M20/M30/M40에서 조절 가능
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(우)07299 서울특별시 영등포구 경인로 775 (문래동 3가, 에이스하이테크시티 3동 2층)
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