4200A-SCS를 사용하여 반도체 장치, 소재 및 프로세스 개발에 대한 연구, 신뢰성 및 고장 분석 연구를 가속화할 수 있습니다. 최고 성능의 파라미터 애널라이저인 4200A-SCS는 전류 - 전압(I-V), 커패시턴스 - 전압(C-V) 및 초고속 펄스형 I-V 측정에 대한 동기화된 정보를 제공합니다.

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MOSFET, IGBT, 다이오드 및 기타 고전력 장치를 사용하고 개발하려면 브레이크다운 전압, ON 상태 전류 및 커패시턴스 측정과 같은 포괄적인 장치 레벨 특성화를 수행해야 합니다. Keithley의 고전력 파라메트릭 곡선 트레이서 구성 라인은 모든 장치 유형 및 테스트 파라미터를 지원합니다. Keithley의 파라메트릭 곡선 트레이서 구성에는 특성화 엔지니어가 완벽한 테스트 시스템을 빠르게 개발하는 데 필요한 모든 항목이 포함되어 있습니다.

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자동 웨이퍼 레벨 테스트를 위한 표준 및 사용자 정의 구성 시스템

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반도체 장치는 속도가 빠르고 전류가 낮으므로 I-V 및 C-V 신호의 고품질/고성능 스위칭이 필요합니다. Keithley는 최대 2,880개의 채널을 지원할 수 있는 메인프레임과 반도체 애플리케이션 전용으로 설계된 매트릭스 카드 제품군이 포함되어 있는 반도체 연구 개발 및 생산 테스트 애플리케이션용 스위칭 솔루션을 제공합니다.

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반도체 장치 특성화/안정성, 파라메트릭/구성 요소 테스트 환경이 제공됩니다.

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• - Ideal for Bench or Production
• - 소싱 범위: 최대 10A 펄스, 200V, 1000W
• - 측정 범위: 1pA, 100nV
• - Use with KickStart 2.0

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• - Ideal for Bench or Production
• - 소싱 범위: 최대 10A 펄스, 200V, 200W
• - 측정 범위: 최하 0.1fA, 100nV
• - 고속 임베디드 프로그래밍

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• - 4 채널, 1U 폼 팩터
• - 설치 적재 : 열 간격 요구 사항 없음
• - 100fA, 100nV 까지 측정

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• - 소싱 범위: 최대 50A 펄스, 3000V, 2000W
• - 측정 범위: 최하 1fA, 1uV
• - 100A 전류 소스에 대해 2개 연결
• - 1us, 18비트 샘플링 속도

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• - 2 채널
• - 최대 전류 소스/측정 범위: 20 mA
• - 최대 전압 소스/측정 범위: 100V
• - 전원 : 2W
• - 측정 분해능(전류/전압): 1 fA

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• - 1 채널
• - 최대 전류 소스/측정 범위: 5 A
• - 최대 전압 소스/측정 범위: 10 V
• - 전원 : 50 W

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• - 1 채널
• - 최대 전류 소스/측정 범위: 5 A
• - 최대 전압 소스/측정 범위: 10 V
• - 전원 : 50 W

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• - 1 채널
• - 최대 전류 소스/측정 범위: 5 A
• - 최대 전압 소스/측정 범위: 10 V
• - 전원 : 50 W
• - 측정 분해능(전류/전압) : 700 nA / 0.33 mV

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오실로스코프는 기본적으로 그래프 디스플레이 장비로, 전기 신호의 그래프를 표시하는 장비입니다. 기본적으로, 오실로스코프의 그래프는 시간이 흐름에 따라 신호가 어떻게 변화하는지 표시합니다.

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PXI 기반의 NI 반도체 테스트 시스템(STS)은 RF 및 혼합 신호 테스트를 위해 모듈형 계측과 시스템 설계 소프트웨어를 결합하였습니다.

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