Keithley 4200A-SCS 반도체 특성 분석기

빠르고 선명한 파라메트릭 분석 정보 제공

주요 특징

측정. 전환. 반복

4200A-CVIV 멀티 스위치는 프로버 팁을 다시 케이블링하거나 들어 올리지 않고 I-V 및 C-V 측정을 자동으로 전환합니다. 경쟁업체 제품과 달리 4채널 4200A-CVIV 디스플레이는 예상치 못한 결과가 발생할 경우 신속한 테스트 설정 및 손쉬운 문제 해결을 위해 국부적인 시각적 통찰력을 제공합니다.

주요 특징

특성화. 사용자 정의. 최대화

주요 특징

분석 프로버 및 극저온 컨트롤러와 통합된 솔루션

4200A-SCS 파라미터 분석기는 Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore Model 336 극저온 컨트롤러를 비롯하여 많은 수동/반자동 웨이퍼 프로버 및 극저온 컨트롤러를 지원합니다.

주요 특징

비용 절감 및 투자 보호

바이오센서 특성화

바이오센서 또는 bioFET는 분석물에 대한 생물학적 응답을 전기 신호로 변환합니다. 4200A-SCS에 통합된 Clarius 소프트웨어에는 bioFET 테스트를 위한 프로젝트가 포함되어 있습니다. 이를 시작점으로 사용하여 바이오센서의 전송 및 출력 특성을 특성화하고 거기에서 작업 영역을 확장합니다.

높은 임피던스 응용 사례에 대한 C-V 측정

Keithley의 사용자 정의 초저주파수 C-V 기법을 사용하여 높은 저항 샘플의 커패시턴스를 분석합니다. 이 기법은 SMU(Source Measure Unit) 장비만 사용하여 수행되지만 더 높은 주파수 측정을 위해 4210-CVU와 함께 사용할 수도 있습니다.

주요 특징

반도체 및 NVM 안정성

완벽한 펄스형 I-V 특성화로 테스트에 새로운 기술을 투입합니다. 4200A-SCS에는 플로팅 게이트 플래시부터 ReRAM 및 FeRAM에 이르는 NVRAM 기술에 대한 지원 및 실행 준비가 완료된 테스트가 포함되어 있습니다. 전류 및 전압에 대한 듀얼 소싱 및 측정 기능을 통해 과도 및 I-V 도메인 특성화가 가능합니다.

펨토패럿 커패시턴스 측정

4215-CVU 모듈로 펨토패럿(femtofarad) 이하의 커패시턴스를 측정하십시오. 1V AC를 구동하면 4215-CVU에서 1fF 커패시터를 측정할 때 6 아토패럿(attofarad)만큼이나 낮은 노이즈 레벨을 달성할 수 있습니다. 이는 커패시턴스를 측정하고 중요한 파라미터를 측정하기 위한 Clarius 소프트웨어에 포함된 수십 개의 애플리케이션 중 하나에 불과합니다.

주요 특징

긴 케이블 또는 커패시턴스 픽스쳐를 사용하는 경우의 테스트

매우 긴 케이블이나 고캐패시턴스 픽스쳐가 필요한 테스트에는 4201 또는 4211-SMU를 사용하십시오. 이러 SMU는 LCD 테스트 스테이션, 프로버, 스위치 매트릭스 또는 기타 크고 복잡한 테스터에 연결하는 데 이상적입니다. 현장 설치 가능 버전을 사용하면 장치를 서비스 센터로 반송하지 않고도 용량을 추가할 수 있습니다.

물질 저항률

통합 SMU와 함께 4200A-SCS를 사용하여 4포인트 공선형 프로브 또는 면저항 측정법으로 저항률을 쉽게 측정할 수 있습니다. 포함된 테스트는 반복적인 면저항 측정 계산을 자동으로 수행하여 귀중한 연구 시간을 절감하도록 합니다. 최대 전류 분해능 10aA 및 10­­­­16Ohm 초과 입력 임피던스를 사용하여 보다 정확하고 정밀한 결과를 얻을 수 있습니다.

MOSFET 특성화

4200A-SCS는 컴포넌트 또는 웨이퍼상 테스트를 통해 MOS 장치의 전체 특성화에 필요한 모든 장비를 보유할 수 있습니다. 포함된 테스트 및 프로젝트는 MOSCap의 산화물 두께, 임계 전압, 도핑 농도, 이동 이온 농도 등을 해석합니다. 이러한 모든 테스트는 단일 장비 박스의 버튼을 터치하여 실행할 수 있습니다.