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DSA8300 시리즈 디지털 샘플링 오실로스코프
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까다로운 고속의 신호 특성 측정에 최상의 신호 충실도를 제공합니다.
고도로 정확한 장치 특성화를 위한 업계 선도적인 100fs 미만의 고유 지터를 포함한 DSA8300 시리즈는 광통신 표준, 시간 도메인 반사계 및 S 매개 변수에 대한 포괄적인 지원을 합니다. DSA8300 디지털 샘플링 오실로스코프는 155 Mb/sec에서 100 G 범위의 데이터 통신을 위한 완전한 고속 PHY 계층 테스트 플랫폼입니다.
DSA8300 시리즈의 모델 별 주요 스펙 비교
| 모델 | 대역폭 | 샘플 속도 | 레코드 길이 | 채널 수 | 참조가격 |
|---|---|---|---|---|---|
| DSA8300 | DC – 80 GHz | 300 kS/s | 50 포인트 ~ 16,000 포인트 * IConnect®에서 1 M 포인트 * 80SJNB의 경우 10 M 포인트 |
사용된 샘플링 모듈에 따라 결정 (최대 8개 채널) |
* 정확한 가격은 전화 (070-7872-0701) 문의바랍니다.
DSA8300 시리즈의 주요 특장점
| 특징 | 장점 |
| 전기 모듈 신호 측정 정확도: * 초저 시스템 지터(＜100 fs, 편의 사양) * > 70 GHz |
100 fs 미만의 고유 지터를 통해 테스트 장비에서 사용 중인, 5% 미만의 신호 단위 간격을 가진 일반적으로 높은 비트 속도(40 및 100(4´25) Gb/s) 장치를 특성화할 수 있습니다. 70 GHz 대역 폭을 통해 높은 비트 속도 신호를 완전히 특성화할 수 있습니다 (28 Gb/sec 데이터 속도에 대해 다섯 번째 고조파, 45 Gb/sec 이상의 데이터 속도에 대해 세 번째 고조파) |
| 모든 대역폭에서 업계 최저 시스템 노이즈 발생: * 최대 600µV(450µV, 편의 사양) @ 60GHz * 최대 380µV(280µV 편의 사양) @ 30GHz |
높은 비트 속도, 낮은 진폭 신호 획득 시 장비 노이즈를 최소화하여 추가 지터 및 아이 닫힘으로 보일 수 있는 추가 노이즈를 제거합니다. |
| 단일 메인프레임의 100fs 미만 지터에서 최대 6개의 채널 동시에 획득 |
여러 디퍼런셜 채널에 대해 높은 충실도의 획득이 가능하여 교차 채널 손상을 테스트할 수 있으며, 여러 고속 시리얼 채널을 포함한 시스템의 테스트 처리량이 향상됩니다. |
| 광 모듈에서 155 Mb/s - 100 Gb/s(4x25) 이더넷의 모든 표준 속도에 대해 옵틱 컴플라이언스 테스트 지원 |
850, 1310 및 1550 nm의 경우 155 Mb/s(OC3/STM1)에서 시작하여 40 Gb/s (SONET/SDH 및 40 GBase 이더넷)와 100 Gb/s 이더넷(100 GBase-SR4, -LR4 및 ER4)에 이르기까지 단일 및 다 중 모드 광학 표준에 대해 비용 효율적이고 기능이 다양한 광학 테스트 시스템을 제공합니다. |
| 300 kS/s의 샘플링 속도로 뛰어난 획득 처리량 | 뛰어난 시스템 처리량으로 제조 또는 장치 특성화 관련 테스트 시간이 4배 단축되었습니다. |
| DUT(테스트 대상 장치)에 인접하여 샘플러 배치 | 원격 샘플링 헤드가 DUT에서 장비까지의 케이블 연결 및 고정으로 인한 신호 저하를 최소화 하고 테스트 시스템 제외를 간소화합니다. |
| 독립적인 교정된 채널 지연시간 보정 지원 | 듀얼 채널 모듈에서 채널 지연시간 보정이 통합, 교정되어 스큐를 제거함으로써 여러 채널 측정 시 신호 충실도가 개선됩니다. |
DSA8300 시리즈용 프로브
| 모델 | 설명 | 데이터 시트 |
| DVT30-1MM GigaProbe | 30 GHz TDR 프로브 (GigaProbes에서 제공) |  |
| P8018 | 휴대용 TDR 프로브, 패시브, 20 GHZ, 싱글 엔드, 50 Ω, SMA 커넥터 (20 GHZ SMA 케이블 포함), 80A02 EOS/ESD 보호 모듈에서 작동하도록 설계, 이 제품에 포함된 컴플라이언스 관련 설명 |
|
| P80318 | 프로브 키트,18GHz 100Ω 디퍼런셜 휴대용 프로브 | |
| Low Voltage Probe - Single Ended | ||
| P6150 | 패시브 프로브: 10X/1X, 9GHz, 12.5V 저커패시턴스 | |
| Differential Probe - Low Voltage | ||
| P7330 | 프로브, 디퍼런셜, 3.5GHz BW, +/-1.75V DIFFERENTIA.L 동적 범위, +5V -4V 커먼 모드 범위, 입력에서 2.3MV RMS 노이즈, 5X 감쇠 - 확인 가능한 교정 인증서 표준 | |
| P7350 | 디퍼런셜 프로브, 5GHZ | |
DSA8300 모듈
| 모델 | 설명 |
| 80A02 | 텍트로닉스 전기 샘플링 모듈의 전기 정적 분리를 위한 EOS/ESD 보호 모듈, 이 제품에 포함된 컴플라이언스 관련 설명 |
| 80A03 | TEKCONNECT 프로브 인터페이스 모듈 |
| 80A05 | 전기 클럭 복구 모듈 |
| 80B28G | 8000 시리즈 - 25 Gb/s 및 28 Gb/s 표준을 지원하는 전기 샘플링 스코프 번들(80E09B, 82A04B, CR286A 및 액세서리 포함) |
| 80C07B | 광 샘플링 모듈, 2.488 GB/S OC48/STM16, 2.500 GB/S 2 GBE, 2.500 GB/S INFINIBAND, 2.5 GHZ 광대역폭 |
| 80C08D | 단일 채널 광 샘플링 모듈, 10G 광 기준 수신기 필터, 12GHz 광대역폭, 단일 모드/다중 모드 |
| 80C10C | 단일 채널, 65/80GHz 광 샘플링 모듈(F1, F2 또는 F3 옵션 중 하나를 지정해야 함) |
| 80C11B | 단일 채널 광 샘플링 모듈, 10G 광 기준 수신기 필터, 28GHz 광대역폭, 단일 모드 |
| 80C12B | 12 GHz, 광폭 파장, 증폭된 광 샘플링 모듈 |
| 80C14 | 14+GHz, 광폭 파장, 증폭된 광 샘플링 모듈 |
| 80C15 | 8000 시리즈 광 모듈, 32GHz, 단일 모드/다중 모드, 광폭 파장 |
| 80E03 | 샘플링 모듈, 듀얼, 20 GHZ 전기 샘플링 모듈 - 확인 가능한 교정 인증서 표준 |
| 80E04 | 샘플링 모듈, 듀얼, 20 GHZ(TDR 전기 샘플링 모듈 포함) - 확인 가능한 교정 인증서 표준 |
| 80E07B | 8000 시리즈, 듀얼 채널, 30 GHz, 원격 전기 샘플링 모듈(D1 포함) |
| 80E08B | 8000 시리즈, 듀얼 채널, 30 GHz, TDR 포함 원격 전기 샘플링 모듈(D1 포함) |
| 80E09B | 8000 시리즈, 듀얼 채널, 60 GHz, 원격 전기 샘플링 모듈(D1 포함) |
| 80E10B | 8000 시리즈, 듀얼 채널, 50 GHz, TDR 포함 원격 전기 샘플링 모듈(D1 포함) |
| 80E11 | 8000 시리즈, 듀얼 채널, 70 GHz, 초저 지터, 원격 전기 샘플링 모듈(D1 포함) |
| 80E11X1 | 8000 시리즈, 단일 채널, 70 GHz, 초저 지터, 원격 전기 샘플링 모듈(D1 포함) |
| 82A04B | 8000시리즈, 위상 기준 모듈(D1 포함) |
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(우)07299 서울특별시 영등포구 경인로 775 (문래동 3가, 에이스하이테크시티 3동 2층)
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