MP300 CL3 모든 타입의 비접촉식 디바이스를 위한 제조생산용 테스터

MP300 CL3은 이전에 출시된 MP300 CL2 및 MT1의 성공을 바탕으로 비접촉식 대상물을 위해 더욱 고성능화된 제조생산 테스트 솔루션으로 탄생되었습니다. 이 제품은 해당 계통의 테스트 기능을 향상시키고 모든 모드(리더 및 카드 시뮬레이션 모드)에서 NFC phone의 품질을 보장하기 위해 필요한 모든 테스트를 추가할 수 있습니다.

주요 특징 :

비접촉식 스마트 카드, RFID 태그(tags), M2M 모듈, 칩온테이프(chip on tape) 마이크로 모듈 및 NFC 디바이스에 대한 생산 테스트
ISO 14443 A/B, ISO 15693, FeliCa, Mifare, B' (Innovatron), 및 모든 NFC Forum 태그와 관련된 모든 프로토콜의 범위
ASK 및 PSK 모드에서의 고속 통신(VHBR)의 범위
테스트 매개변수 정의(필드 강도, 상승/하강 시간, 변조 인덱스, 부하 변조 진폭(스마트 카드 시뮬레이션), DUT 필드의 로드(스마트 카드 시뮬레이션)
수많은 테스트 구현(공진 주파수, Q 인자, 복합 임피던스, 필드 강도 측정, ...)
ID-1 스마트 카드, M2M 모듈, 구성요소 테이프(COT), NFC 디바이스 등과 같은 폼 팩터(form factors)를 테스트하고 개인화할 수 있는 이상적인 도구
개방형 API 덕분에 제어하기가 쉽다
듀얼 PCD 모드-PICC 모드 모델 포함한 다양한 안테나 사용 가능
모듈성 : 동일한 MP300 마더 보드에 두개의 MP300 CL3를 가질 수 있는 가능성
모듈성 : 듀얼 인터페이스 마이크로 모듈 테스트를 위해 MP300 C3와 함께 설치된 MP300 CL3를 가질 수 있는 가능성
Presence of a SAM 카드 리더기 존재
마스터카드 CQM 테스트 요구사항을 수행하기 위한 이상적인 도구
WPC 사양에 따라 생산 컨텍스트(context) 전력 송신기를 테스트할 수 있는 도구

데이터시트 다운로드

기술 자료

지원되는 프로토콜
ISO/IEC 14443 (근접)
- 지원되는 데이터 속도 :
- 106, 212, 424, 848 kbps
- VHBR 옵션. ASK 및 PSK 변조 지원
- 비대칭 전송 속도 지원

B' (Innovatron)

ISO/IEC 15693 (주변 카드)
- 지원되는 데이터 속도 :
- Low & high 데이터 전송률
- 1 out of 4, 1 out of 256
- 태그 동작
- 1 서브 캐리어
- 2 서브 캐리어

ISO 18000-3 모드 1

Mifare
- 지원되는 버전 : Classic, Light, Ultra Light, Ultra Light C, Desfire

FeliCa
- 지원되는 데이터 속도 : 212, 424 kbps

NFC 포럼 모드
- 피어(Peer) 2 피어(Peer), 리스닝(Listening), 폴링(Polling)

NFC 포럼 태그
- 태그 타입 1 (Innovision Topaz)
- 태그 타입 2 (Mifare Ultra Light)
- 태그 타입 3 (FeliCa)
- 태그 타입 4 (ISO 14443 A/B)

ISO 18092 (NFC-IP1)
- 지원되는 통신 매카니즘 : 액티브/패시브 모드, 개시자/타겟

Raw 모드
- 사용자 정의 프로토콜 구현 가능

프로그래밍 가능한 매개변수
물리적 매개변수 (모든 타입)
- 필드 강도
- 변조의 상승/하강 시간
- 변조 인덱스
- 일시 중지 시간(ISO 14443 A 및 ISO 15693)
- 각 비트의 지속시간 + EOF + SOF (ISO 14443 A)
- 변조 진폭 로드(Load) (비접촉식 스마트 카드 시뮬레이션)
- 리더기 필드 로드(Load) (비접촉식 스마트 카드 시뮬레이션)

논리적 매개변수
- 타입 A 일시중지
- FWT, TR0, TR1, TR2
- 통신 속도
- 응답시간(비접촉식 스마트 카드 시뮬레이션)

사용 가능한 테스트
Electrical testing for NFC devices
– Test of the NFC device Card Emulation mode :
– Generation of different waveshapes (ISO 14443 A/B, FeliCaTM, ISO 15693) at different physical conditions (field strength, rise/fall times, modulation index, …)
– Measurement of the NFC device response Load Modulation Amplitude

– Test of the NFC device Reader/Writer mode :
– Generation of different waveshapes (ISO 14443 A/B, FeliCaTM, ISO 15693) at different physical conditions (load modulation amplitude, positive/negative modulation, …)
– Measurement of the emitted field strength
– Test at different loads on the field
– Characterization of the reader/writer mode waveshapes (rise/fall times, overshoot, modulation index, …)

– Resonance frequency / Q factor
– Measurement done at different field strength
– Correlation with a VNA

Electrical testing of the WPC interface
– Resonance frequency / Q factor
– Measurement of Ir, Vr, and the charger clock frequency
– Sending of packets to perform a full charging procedure (retromodulation adjustable)
– Definition of the modulator type (Resistive or Capacitive)
– Definition of the load of the antenna
– Definition of the matching circuit on the antenna
– Definition of the amount of current used to simulate the presence of a battery

Logical testing
– Numerous timing controlled pre-implemented sequences (ex : Field on to REQA/REQB)
– Anti-tearing test
– Framing (parity error simulation, CRC error, protocol error, timing (short response, long response, …)

– Generation of all WPC (QI) defined frames

Also available
– Complex impedance
– Resistor, Inductance, Capacitance
– Direct computation of Rp//Cp
– Measurement of chip and antenna impedance
– Open/short testing

사용 분야

The MP300 CL3은 다음과 같은 분야에서 사용됩니다 :

Initialisation, OS loading, pre-personalization, personalization of contactless micro modules, smart cards, inlays
Test in production lines of smart objects, such as NFC devices
Quality inspection of NFC devices
Test of (Qi) WPC compatible devices in a production line