MP300 CL3 NFC 디바이스 제조생산용 테스터

MP300 CL3은 제조생산 환경에서 NFC 장치(핸드셋, 태블릿 PC, 스마트 시계 등)를 테스트하는 제품입니다. 자동 테스트 기능이 있으며, 견고하게 디자인 되었고, 사용자 친화적으로 만들어졌습니다. 중요한 NFC 장치의 모든 기능(터미널 시뮬레이션, 카드 시뮬레이션, 공진 주파수 등)을 테스트할 수 있습니다.

주요 특징 :

데이터시트 다운로드

기술 자료

지원되는 프로토콜 ISO/IEC 14443 (근접) - 지원되는 데이터 속도 : - 106, 212, 424, 848 kbps - VHBR 옵션. ASK 및 PSK 변조 지원 - 비대칭 전송 속도 지원 B' (Innovatron) ISO/IEC 15693 (주변 카드) - 지원되는 데이터 속도 : - 저 / 고 데이터 전송률 - 1 out of 4, 1 out of 256 - 태그 비헤이비어 - 1 서브 캐리어 - 2 개의 부반송파 ISO 18000-3 모드 1 Mifare - 지원되는 버전 : 클래식, 라이트, 울트라 라이트, 울트라 라이트 C, 데스 파이어 FeliCa - 지원되는 데이터 속도 : 212, 424 kbps NFC 포럼 모드 - 피어 2 피어, 듣기, 폴링 NFC 포럼 태그 - 태그 유형 1 (Innovision Topaz) - 태그 유형 2 (Mifare Ultra Light) - 태그 유형 3 (FeliCa) - 태그 유형 4 (ISO 14443 A/B) ISO 18092 (NFC-IP1) - 지원되는 통신 메커니즘 : 액티브 / 패시브 모드, 초기자 / 대상 Raw 모드 - 맞춤 프로토콜 구현 가능성

프로그래밍 가능한 파라미터 물리적 매개변수 (모든 유형) - 전계 강도 - 변조의 상승 / 하강 시간 - 변조 지수 - 일시중지 시간 (ISO 14443 A 및 ISO 15693) - 각 비트의 지속 시간 + EOF + SOF (ISO 14443 A) - 변조 진폭 로드 (비접촉식 스마트 카드 시뮬레이션) - 리더기 필드에 로드 (비접촉식 스마트 카드 시뮬레이션) 논리 매개변수 - 유형 A 일시중지 - FWT, TR0, TR1, TR2 - 통신 속도 - 응답 시간 (비접촉식 스마트 카드 시뮬레이션) 사용가능한 테스트 NFC 장치의 전기적 테스트 - NFC 장치 테스트 카드 에뮬레이션 모드 : - 서로 다른 물리적 조건(전계 강도, 상승/하강 시간, 변조지수 등)에서 서로 다른 파형의 생성 (ISO 14443 A / B, FeliCa, ISO 15693) - NFC 장치 응답의 측정 부하 변조 진폭 - NFC 장치의 리더 / 라이터 모드 테스트 : - 서로 다른 물리적 조건 (부하 변조 진폭, 양 / 음 변조, ...)에서 서로 다른 파형의 생성 (ISO 14443 A / B, FeliCa, ISO 15693) - 방출된 전계 강도 측정 - 현장에서 다른 하중에서 테스트 - 리더 / 라이터 모드 파형의 특성화 (상승 / 하강 시간, 오버 슛, 변조 지수 등) - 공진 주파수 / Q 인자 - 다른 전계 강도로 측정 - VNA와의 상관 관계 논리 테스트 - N수많은 타이밍 제어 사전 구현 시퀀스 (예 : Field on to REQA / REQB) - 내파 시험 - 프레이밍 (패리티 오류 시뮬레이션, CRC 오류, 프로토콜 오류, 타이밍(짧은 응답, 긴 응답,등) 기타 가능한 테스트 - 복합 임피던스 - 저항, 인덕턴스, 커패시턴스 - Rp//Cp의 직접 계산 - 칩 및 안테나 임피던스 측정 - 개방/단락 시험

사용 분야

MP300 CL3은 일반적으로 다음과 같은 분야에서 사용됩니다 :

액세사리