MP300 C3+CL3 듀얼 인터페이스 스마트 카드 테스터

MP300 C3/CL3은 이중 인터페이스 스마트 카드 및 스마트 개체의 테스트 및 (사전)개인화와 관련된 작업에 있어서 업계 선도의 위치에 있는 제품입니다. 주요 스마트 카드 및 칩 제조업체의 공장에서 사용되는 이 제품은 제조생산 분야의 필수 조건인 높은 처리량, 안정성 및 효율성을 완벽하게 통합했습니다.

주요 특징 :

ISO 7816, SWP/HCI (ETSI TS 102.613 및 ETSI TS 102.622), USB 2.0 지원
ISO 14443 A/B, ISO 15693, FeliCa, Mifare, B' (Innovatron), 및 모든 NFC Forum 태그의 범위
ASK 및 PSK 모드에서의 고속 통신(VHBR) 범위
테스트 매개변수(전압, 클럭 주파수, 전계 강도, ...)의 정의에 매우 유연함
개방/단락, 누설, 소비, 구동력, 파라메트릭 테스트, 공진 주파수, Q인자 등 수행
ID-1 스마트 카드, SIM(마이크로 SIM, 나노 SIM), M2M 모듈, 구성 요소 테이프 등의 폼 팩터를 테스트 및 개인 설정
개방형 API로 쉽게 제어
모듈 구조 : 최대 2 개의 MP300 C3 / CL3을 하나의 MP300 마더 보드에 설치
듀얼 PCD 모드 -PICC 모드 모델을 포함하여 다양한 안테나 사용 가능
SAM 카드 리더기의 존재

기술 자료

지원되는 프로토콜
ISO/IEC 7816-3
- T=0 and T=1 프로토콜 : 100 % 구현 및 관리, 펌웨어 및 FPGA, 하드웨어 가속

SWP/HCI (ETSI TS 102.613 및 ETSI TS 102.622)
- SWP 전송 : 하드웨어 지원
- LLC 계층 지원 : ACT, CLT, 펌웨어로 구현된 S-HDLC

USB 2.0
- 사용가능한 속도 : 저속, 최고 속도
- 클래스 : ISO/IEC 7816-12, 대용량 저장, 맞춤 프로토콜

동기식 칩
- 모든 종류의 메모리 구성 요소(SLE 46xx, T2G, …)

ISO/IEC 14443 (근접)
- 지원되는 데이터 속도 :
- 106, 212, 424, 848 kbps
- VHBR 옵션. ASK 및 PSK 변조 지원
- 비대칭 전송 속도 지원

B' (Innovatron)

ISO/IEC 15693 (주변 카드)
- 지원되는 데이터 속도 :
- 저 / 고 데이터 전송률
- 1 out of 4, 1 out of 256
- 태그 동작 :
- 1 서브 캐리어
- 2 개의 부 반송파

ISO 18000-3 Mode 1

Mifare
- 지원되는 버전 : 클래식, 라이트, 울트라 라이트, 울트라 라이트 C, 데스파이어(Desfire)

FeliCa
- 지원되는 데이터 속도 : 212, 424 kbps

NFC 포럼 모드
- 피어 2 피어, 듣기, 폴링

NFC 포럼 태그
- 태그 유형 1 (Innovision Topaz)
- 태그 유형 2 (Mifare Ultra Light)
- 태그 유형 3 (FeliCa)
- 태그 유형 4 (ISO 14443 A/B)

ISO 18092 (NFC-IP1)
- 지원되는 통신 메커니즘 : 액티브 / 패시브 모드, 초 기자 / 대상

Raw 모드
- 맞춤 프로토콜 구현 가능성

프로그래밍 가능한 매개 변수
물리적 매개 변수 (접촉 인터페이스)
- 전압
- Vcc : : 0V에서 10V까지 조정 가능
- Vol/Voh : 0V ~ 5V / 1V ~ 7V
- Vil/Vih : 0.2V ~ 5V / 1V ~ 6.8V
- 클럭 주파수
- ISO 7816 클럭 :
- 10kHz ~ 20Mhz 조정 가능
- 듀티 사이클 : 30% ~ 70%

핀 상태
- 모든 핀을 별도로 관리할 수 있습니다.

ISO 7816 통신 매개변수
- 조정 가능한 매개 변수 : 모든 규범 적 타이밍 (WWT, BWT, CWT, …), 패리티, 풀업 저항

SWP 통신 매개 변수
- 사용 가능한 전송 속도 : 106 kbps, 212 kbps, 424 kbps, 848 kbps, 1,6Mbps
- 조정 가능한 매개 변수 : 활성화 시간, P2, P3 매개 변수, 전류 감지 수준

물리적 매개변수 (비접촉식 인터페이스)
- 전계 강도
- 변조의 상승 / 하강 시간
- 변조 지수
- 일시 중지 시간 (ISO 14443 A 및 ISO 15693)
- 각 비트의 지속 시간 + EOF + SOF (ISO 14443 A)
- 변조 진폭 로드 (contactless smartcard simulation)
- 리더기 필드에 로드 (비접촉식 스마트 카드 시뮬레이션)

논리적 매개변수
- 타입 A 일시 중지
- FWT, TR0, TR1, TR2
- 통신 속도
- 응답 시간(비접촉식 스마트 카드 시뮬레이션)

사용 가능한 시험
전기 테스트 (접촉 인터페이스)
- 개방 / 단락 시험 (모든 접점에서 전류 강제 조정 가능)
- 누설 전류 (모든 접점)
- 전압 측정 (모든 접점, 정적, 동적, 버스트 모드)
- 전류 측정 (모든 접점, 정적, 동적, 버스트 모드)
- 파라메트릭 테스트 (V=f(I), I=f(V))
- SWP 특정 측정 (SWP S2 전류값에 대한 통계)

논리 테스트
- ISO 7816 및 SWP 동시 I/O 테스트 : ISO 및 SWP에서 동시에 프레임 전송

전기 테스트 (접촉 인터페이스)
- 공진 주파수 / Q 인자 :
- 대역폭h : 11 MHz ~ 22 MHz
- 로드 및 언로드 방식으로 측정
- 복합 임피던스 :
- 저항, 인덕턴스, 커패시턴스
- 칩 및 안테나 임피던스 측정
- Rp // Cp의 직접 계산
- 개방 / 단락 시험
- 자기장 측정 (비접촉식 스마트 카드 시뮬레이션)

논리 테스트
- 수많은 타이밍 제어 사전 구현 시퀀스 (예 : Field on to REQA/REQB)
- 내파 시험
- 프레이밍 (패리티 오류 시뮬레이션, CRC 오류, 프로토콜 오류, 타이밍 (짧은 응답, 긴 응답,...)

사용 분야

The MP300 C3/CL3은 일반적으로 다음과 같은 분야에서 사용됩니다 :