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IM3570 임피던스 아날라이저

다른 측정 조건의 고속 검사를 1대로 실현

히오키의 LCR 및 임피던스 분석기는 전자 부품 시험에 있어서의 다양한 애플리케이션에 적합하도록 4 Hz에서 300 MHz의 측정 범위를 갖추고 있습니다. 모델 IM3570은 극도로 낮은 임피던스 반복성 때문에, 예를 들어 기능성 고분자 커패시터 테스트 같은, 몇 밀리 정도의 낮은 ESR 측정을 필요로 하는 응용분야에 사용하기에 이상적인 제품 입니다.

모델	설명	Quote
IM3570	임피던스 분석기

이 제품은 테스트 프로브 또는 테스트 픽스춰(Tst Fixture)와 함께 제공되지 않습니다. 별도의 용도에 맞게 테스트 프로브 또는 테스트 픽스처(Test Fixture) 옵션을 구입하십시오.
RS-232C 연결용 : 상호 접속(Interconnection)을 위한 크로스오버(Crossover) 케이블이 사용될 수 있습니다. 하드웨어 플로워 컨트롤 (flow control)없이 RS-232C 케이블 9637을 사용할 수 있습니다.

주요특징

LCR 측정, DCR 측정, 스위프 측정 연속 측정과 고속 검사를 1대로 실현
LCR 모드 최고속도 1.5 ms (1 kHz), 0.5 ms (100 kHz)
기본 정확도 ±0.08 %
압전 소자의 공진 특성 검사, 기능성 고분자 콘덴서의 C-D와 낮은 ESR 측정, 인덕터 (코일 트랜스)의 DCR과 LQ 측정 등에 최적
아날라이저 모드로 주파수 스윕 측정, 레벨 스윕 측정, 타임 인터벌 측정

기본 사양

IMPEDANCE ANALYZER IM3570
측정모드	LCR(LCR측정), 아날라이저(스윕측정), 연속측정
측정 파라미터	Z, Y , θ, Rs(ESR), Rp, DCR(직류저항), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D(tan ς), Q
정확도 보증범위	100 mΩ ~ 100 MΩ, 12레인지(모든 파라미터는 Z로 규정)
표시범위	Z, Y, Rs, Rp Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp : ±(0.00000 [단위] ~ 9.99999G [단위]) Z와 Y는 절대값표시 θ : ± (0.000°~999.999 °), D : ±(0.00000~9.99999) Q : ± (0.00~99999.9), △% : ± (0.0000 %~999.999 %)
기본정확도	Z ±0.08 % rdg, θ : ±0.05 °
측정주파수	4 Hz~5 MHz(10 mHz ~ 100 Hz 스텝)
측정신호레벨	일반모드: V모드, CV모드 : 5 mV ~ 5 Vrms(1 MHz 까지) 10 mV~1 Vrms(1.0001 MHz~5 MHz), 1 mVrms스텝 CC모드 : 10 μA~ 50 mArms(1 MHz 까지) 10 μA-10 mArms(1.0001 MHz~5 MHz) 10 μArms스텝 저임피던스 고정밀도 모드 V모드, CV모드 : 5 mV ~ 1 Vrms(100 kHz까지), 1 mVrms스텝 CC모드:10 μA~ 100 mArms(100 kHz까지의 100 mΩ과 1 Ω레인지), 10 μArms스텝
출력 임피던스	일반모드 : 100 Ω, 저임피던스 고정밀도 모드 : 10 Ω
표시	컬러 TFT 5.7인치, 표시 ON/OFF 설정가능
측정시간	0.5 ms (100 kHz, FAST, 디스플레이 OFF, 대표값)
기능	DC바이어스 측정, 컴퍼레이터, BIN측정(분류기능), 패녈 로드/세이브, 메모리 기능
인터페이스	EXT I/O(핸들러), RS-232C, GP-IB, USB통신, USB메모리, LAN
전원	AC90 ~ 264 V, 50/60 Hz, 150 VA max
치수 및 질량	330 W ⅹ 119 H ⅹ 307 Dmm, 5.8 kg
부속품	전원코드ⅹ1, 사용설명서ⅹ1, 통신 사용설명서(CD)ⅹ1